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超聲波探傷時(shí)應(yīng)該如何選擇適合的探頭?

2024-08-26 13:34:50 沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒


    超聲檢測(cè)中,超聲波的發(fā)射和接收都是通過(guò)探頭來(lái)實(shí)現(xiàn)的。探頭的種類(lèi)很多,結(jié)構(gòu)型式也不一樣。超聲波探傷時(shí)應(yīng)該如何選擇適合的探頭?檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的形狀、超聲波的衰減、技術(shù)要求等來(lái)選擇探頭。探頭選擇包括探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭K值(或折射角)的選擇等。


一、探頭型式的選擇


常用的探頭型式有縱波直探頭、橫波斜探頭、表面波探頭、雙晶探頭、聚焦探頭等.一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來(lái)選擇探頭的型式,使聲束軸線盡量與缺陷垂直。


二、 探頭頻率的選擇


超聲波檢測(cè)頻率在0. 5~10MHz之間,選擇范圍大。一般選擇頻率時(shí)應(yīng)考慮以下因素。

1.由于波的繞射,使超聲波檢測(cè)極限靈敏度約為λ/2,因此提高頻率,有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。

2.頻率高,脈沖寬度小,分辨力高,有利于區(qū)分相鄰缺陷。

3、由公式擴(kuò)散角公式沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒可知,頻率高,波長(zhǎng)短,則半擴(kuò)散角小,聲束指向性好,能量集中,有利于發(fā)現(xiàn)缺陷并對(duì)缺陷定位。

4、由公式近場(chǎng)區(qū)公式沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒可知,晶片尺寸增加,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度迅速增加,對(duì)檢測(cè)不利。

5、由衰減公式 沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒可知,頻率增加,衰減急劇增加。


   由以上分析可知,頻率的高低對(duì)檢測(cè)有很大影響。頻率高,靈敏度和分辨率高,指向性好,對(duì)檢測(cè)有利。但頻率高,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大,衰減大,又對(duì)檢測(cè)不利。實(shí)際檢測(cè)中要全面分析考慮各方面的因素,合理選擇頻率。一般在保證檢測(cè)靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。


   對(duì)于晶粒較細(xì)的鍛件、軋制件和焊接件等,一般選用較高的頻率,常用2.5-5.0MHz。對(duì)晶粒粗大鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率,穿透力好,常用0. 5-2.5MHz。如果頻率過(guò)高,就會(huì)引起嚴(yán)重衰減,示波屏上出現(xiàn)林狀回波,信噪比下降,甚至無(wú)法檢測(cè)。


三、探頭晶片尺寸的選擇

  探頭圓晶片尺寸一般為φ 10--φ 30mm,晶片大小對(duì)檢測(cè)也有一定影響, 選擇晶片尺寸時(shí)要考慮以下因素。

1、由  沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒  可知,晶片尺寸增加,半擴(kuò)散角減少,波束指向性變好,超聲波能量集中,對(duì)檢測(cè)有利。

2、沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒可知,晶片尺寸增加,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度迅速增加,對(duì)檢測(cè)不利。

3、晶片尺寸大,輻射的超聲波能量大,發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng),探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大,遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)變小。


    以上分析說(shuō)明晶片大小對(duì)聲束指向性,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度、近距離掃查范圍和遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力有較大的影響。實(shí)際檢測(cè)中,檢測(cè)面積范圍大的工件時(shí),為了提高檢測(cè)效率宜選用大晶片探頭。檢測(cè)厚度大的工件時(shí),為了有效的發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷宜選用大晶片探頭。檢測(cè)小型工件時(shí),為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭。檢測(cè)表面不太平整,曲率較大的工件時(shí),為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。


四、橫波斜探頭K值(或折射角)的選擇


    在橫波檢測(cè)中,探頭的K值(或折射角)對(duì)檢測(cè)靈敏度、聲束軸線的方向,一次波的聲程有較大影響。對(duì)于用有機(jī)玻璃斜探頭檢測(cè)鋼制工件,β=400 (K=0. 84)左右時(shí),聲壓往復(fù)透射率最高,即檢測(cè)靈敏度最高。由k = Tanβ,可知,K值大,βs大,一次波的聲程大。因此在實(shí)際檢測(cè)中,當(dāng)工件厚度較小時(shí),應(yīng)選用較大K值的以減少聲程過(guò)大引起的衰減,便于發(fā)現(xiàn)深度較大處的缺陷。在焊縫檢測(cè)中,還要保證主聲束能掃查整個(gè)焊縫截面。對(duì)于單面焊根部未焊透,還要考慮端角反射問(wèn)題,應(yīng)使K=0.7-1.5,因?yàn)镵<0.7或K>1.5,端角反射率很低,容易引起漏檢。


        以上是針對(duì)超聲波探傷時(shí)應(yīng)該如何選擇適合的探頭的解答,請(qǐng)結(jié)合實(shí)際檢測(cè)工件情況及要求進(jìn)行對(duì)應(yīng)適合的超聲波探頭。

       沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒檢測(cè)儀器有限公司生產(chǎn)各類(lèi)超聲波探頭,類(lèi)型達(dá)幾百種,探頭元件用料精良,靈敏度高,使用時(shí)間長(zhǎng),可根據(jù)要求進(jìn)行定做,歡迎您


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