有很多剛接觸超聲波探傷的小白們，對(duì)于超聲檢測(cè)中應(yīng)用的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)都不太了解，今天沈陽(yáng)宇時(shí)先鋒檢測(cè)儀器有限公司給大家整理了一下超聲檢測(cè)中常見(jiàn)的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)，供大家參考！

  超聲無(wú)損檢測(cè)有很多名詞術(shù)語(yǔ)，常用的有A型顯示、發(fā)射脈沖、脈沖幅度、脈沖寬度、回波、底面回波、缺陷回波、干擾回波、遲到回波、幻象回波、分貝、聲阻抗、衰減、  缺陷、時(shí)基線、掃描、掃描范圍、  掃描速度、水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍、脈沖重復(fù)頻率、檢測(cè)頻率、回波頻率、靈敏度、靈敏度余量、分辨力、閘門(mén)、衰減器、信噪比、增益、距離波幅曲線(DAC)、耦合、試塊、標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊、探頭、壓電材料、晶片、隔聲層、直探頭、斜探頭、探頭入射點(diǎn)、探頭角度、探頭前沿等。了解這些術(shù)語(yǔ)所代表的確切含義，有助于更好地使用儀器進(jìn)行探傷。

探傷術(shù)語(yǔ)

A型顯示:

以水平基線(X軸)表示距離或時(shí)間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表示幅度的一種信息表示方法。

發(fā)射脈沖:

為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。

脈沖幅度:

脈沖信號(hào)的電壓幅值。當(dāng)采用A型顯示時(shí)，通常為時(shí)基線到脈沖峰頂?shù)母叨?/p>

脈沖寬度:

以時(shí)間或周期數(shù)值表示的脈沖持續(xù)時(shí)間。

回波:

從反射體上反射回來(lái)的超聲信號(hào)

底面回波:

由被檢件底面反射回來(lái)的波。

缺陷回波:

由被檢件內(nèi)部或表面缺陷引起的回波。

干擾回波:

妨礙探傷結(jié)果評(píng)定的各種回波總稱(chēng)為干擾回波。其中包括假反射波，楔內(nèi)反射波以及因儀器的噪聲、外界干擾等產(chǎn)生的反射波等。

遲到回波:

來(lái)自同一反射體的回波，因所經(jīng)的路徑不同或在途中發(fā)生波型轉(zhuǎn)換而遲后到達(dá)的回波。

幻象回波:

由于超聲探傷儀重復(fù)頻率過(guò)高，在透聲性良好的材料中所出現(xiàn)的非真實(shí)回波(鬼波)。

分貝:

兩個(gè)振幅或者強(qiáng)度比的對(duì)數(shù)表示。顯示屏上兩波高的比較就常常用分貝表示。

聲阻抗:

聲波的聲壓與質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度之比，通常用介質(zhì)的密度p和速度c的乘積表示。

衰減:

超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。

缺陷

尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對(duì)工件的有效使用會(huì)造成損害，或不滿足規(guī)定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)要求的不連續(xù)性。

時(shí)基線:

A型顯示熒光屏中表示時(shí)間或距離的水平掃描線

掃描:

電子束橫過(guò)探傷儀熒光屏所作同一樣式的重復(fù)移動(dòng)。

掃描范圍:

熒光屏?xí)r基線上能顯示的最大聲程

掃描速度:

熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。

水平線性:

超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)(通過(guò)校正的時(shí)間發(fā)生器或來(lái)自已知厚度平板的多次回波) 成正比關(guān)系的程度。

垂直線性:

超聲探傷儀熒光屏?xí)r間或距離軸上顯示的信號(hào)與輸入接收器的信號(hào)幅度成正比關(guān)系的程度。

動(dòng)態(tài)范圍:

在增益調(diào)節(jié)不變時(shí)，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比。通常以分貝表示。

脈沖重復(fù)頻率:

為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵(lì)探頭晶片的脈沖次數(shù)。

檢測(cè)頻率:

超聲檢測(cè)時(shí)所使用的超聲波頻率，通常為0.5~15MHZo

回波頻率:

回波在時(shí)間軸上進(jìn)行擴(kuò)展觀察所得到的峰值間隔時(shí)間的倒數(shù)。

靈敏度:

在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號(hào)的一種量度

靈敏度余量:

超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測(cè)靈敏度與最大探測(cè)靈敏度之間的差值。

分辨力:

超聲探傷系統(tǒng)能夠區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個(gè)相鄰缺陷的能力。

閘門(mén):

為監(jiān)控探傷信號(hào)或作進(jìn)一步處理而選定一段時(shí)間范圍的電子學(xué)方法

衰減器:

使信號(hào)電壓(聲壓) 定量改變的裝置。衰減量以分貝表示。

信噪比:

超聲信號(hào)幅度與最大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表示。

增益:

超聲探傷儀接收放大器的電壓放大量的對(duì)數(shù)形式。以分貝表示。

耦合:

在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。

距離波幅曲線 (DAC)

根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離、探傷儀的增益和反射體的大小，三個(gè)參量繪制的一組曲線。實(shí)際探傷時(shí)，可由測(cè)得的缺陷距離和增益值從此曲線上估算出缺陷的當(dāng)量尺寸。

試塊:

用于鑒定超聲檢測(cè)系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。

標(biāo)準(zhǔn)試塊:

材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機(jī)關(guān)或權(quán)威機(jī)構(gòu)檢定的試塊。用于對(duì)超聲檢測(cè)裝置或系統(tǒng)的性能測(cè)試及靈敏度調(diào)整。

對(duì)比試塊:

調(diào)整超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。

探頭:

發(fā)射或接收(或既發(fā)射又接收) 超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標(biāo).

插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護(hù)膜或楔塊組成。

壓電材料:

具有壓電效應(yīng)性質(zhì)的材料，如石英、欽酸、鉆酸鉛等。

晶片:

超聲探頭中的電聲轉(zhuǎn)換元件。主要采用石英，欽酸鋇和錯(cuò)酸鉛等壓電材料制成，其形狀有平面、曲面等。

隔聲層:

雙晶探頭中用以使兩者在聲路上分割開(kāi)來(lái)的吸聲性強(qiáng)的隔片。

直探頭:

進(jìn)行垂直探傷用的探頭，主要用于縱波探傷。

斜探頭:

進(jìn)行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波。

探頭入射點(diǎn):

橫波探頭或表面波探頭上發(fā)射聲束軸線通過(guò)探頭底面的點(diǎn)

探頭角度:

斜探頭鋼中折射角正切值 (K值)，用阿拉伯?dāng)?shù)字表示

探頭前沿:

斜探頭的前沿長(zhǎng)度，是指入射點(diǎn)至探頭前沿的距離。